- Analyse systematischer und zufälliger Messfehler
- Aufstellen von Messfehlermodellen für komplexe Messanordnungen
- Herleitung des Messunsicherheitsbudgets und Identifikation von Optimierungspotenzialen
- Entwicklung von Methoden und Verfahren zur Reduzierung der Messunsicherheit
Ingenieurbüro für Messtechnik
MetroShift - Messtechnik Consulting
Wir verfügen über Erfahrungen aus 25 Jahren praxisnaher Spitzenforschung und Produktion im universitären Rahmen in der 3D-Positionier- und Koordinatenmesstechnik, der Topographie- und der Wegmessung sowie in abgeleiteten messtechnischen Bereichen.
Qualifizierung von Messsystemen
Topografie-und Oberflächenmessung
- Kalibrierung von Normalverkörperungen für 2,5D und 3D-Oberflächenmessung: Three-Flat Test, Three-Sphere Test u.v.m.
- Fitting, Stitching und Transformation von Messdatensätzen
- Referenzierung und Qualifizierung von Oberflächenmessdaten
- optische und taktile Antastung
- scannende und bildgebende Verfahren
Consulting Messtechnikentwicklung
- Strategieentwurf, Konstruktion und Qualifizierung von Präzisionsmesssystemen
- Optimierung und Upgrade bestehender Messsysteme
-
Kernkompetenzen:
- komplexe mechatronische Messsysteme
- interferometrische Messsysteme
- Kalibrierung von Normalverkörperungen
Interferometer
- Messmethodik und Interferometerdesign
- Signalauswertung und -Optimierung
- Datenanalyse
- Messung von in Wege überführbaren Größen
Akkreditierung nach DIN 17025
- Beratung für Kalibrierlaboratorien: - Messunsicherheitsberechnungen - Erstellung Qualitätshandbuch - Konformitätsbewertung
Projektleitung und Teamführung
- Projektleitung, Koordination und Kommunikation nach außen
- Teambildung, Teammotivation und Förderung der internen Kommunikation
- Unterstützung bei Planung und Ausführung von Großprojekten
Beratung zu Messsystemaufstellungen
- Abschirmungsmaßnahmen gegen Umwelteinflüsse
- Schwingungsisolation
- Planung und Ausgestaltung von Laboren für Hochpräzisionsmesstechnik
- FEM-basierte Analyse mechanischer Spannungen und thermischer Driften im Messkreis
![Nanopositionier- und Nanomessmaschine <br/> [NPMM-200]](/images/warptheme/portfolio/_DSF5430-002.jpg)
![Interferometrisches Nanoprofilometer <br /> [INP]](/images/warptheme/portfolio/DSCF6250-002.jpg)
![Markerdesign [IND 10]](/images/warptheme/portfolio/Marker_on_lens.jpg)
